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X射線熒光鍍層測厚儀
產品簡介

X射線熒光鍍層X射線熒光鍍層測厚儀可完成鍍層厚度測量、元素分析、電鍍液分析。最多同時測量5層(4層鍍層+底材),每層可同時分析10種元素。成分測量可同時分析25種元素。1納米至120um可測測厚儀

產品型號:
更新時間:2025-03-10
廠商性質:代理商
訪問量:995
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X射線熒光鍍層測厚儀產品介紹

1.非接觸,無損檢測;

2.測量范圍廣;13~92元素范圍可測;

3.樣品無需前處理,可以直接測試;

4.超高效的分析速率,1秒即可出結果;

5.具備成分分析功能,可同時測定多種元素。

X射線熒光鍍層測厚儀可完成鍍層厚度測量、元素分析、電鍍液分析。最多同時測量5層(4層鍍層+底材),每層可同時分析10種元素。成分測量可同時分析25種元素。1納米至120um可測。

產品規格

X射線熒光鍍層測厚儀

Axis Pro F

AxisProFC的無覆蓋型。適用于采用手套箱進行采樣。

X射線熒光鍍層測厚儀X射線熒光鍍層測厚儀 X射線熒光鍍層測厚儀

手套箱示意圖

全電動系統

5µm大小的對象品也可實現穩定采樣,設置好樣品后僅需移動PC鼠標,標準配備電動交接次級臺

采集樣品的交接由程序控制,不會失敗,采用角度固定臂,設置更加簡單

通用規格

X射線熒光鍍層測厚儀

AxisPro FC/SS/F 通用應用

X射線熒光鍍層測厚儀

采樣儀器

軟件主要功能

X射線熒光鍍層測厚儀




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